コメント
No title
こんにちは
20年以経過した中古アンプはプロテクターリレーが接触不良を起こしているケースが殆ど。
片方音が小さかったり、出ないケースも有り。
劣化したリレーを数個計測してみました。
本来はミリオーム測定には4端子のブリッジ測定が必要ですが100mΩ以上有るので普通のテスターで計測。
結果、470mΩ、1650mΩ、320mΩ、2600mΩと恐ろしい程の劣化。
今回のFETリレーは44mΩでそれ以上は劣化しない素晴らしい良い結果が期待できそうです。
20年以経過した中古アンプはプロテクターリレーが接触不良を起こしているケースが殆ど。
片方音が小さかったり、出ないケースも有り。
劣化したリレーを数個計測してみました。
本来はミリオーム測定には4端子のブリッジ測定が必要ですが100mΩ以上有るので普通のテスターで計測。
結果、470mΩ、1650mΩ、320mΩ、2600mΩと恐ろしい程の劣化。
今回のFETリレーは44mΩでそれ以上は劣化しない素晴らしい良い結果が期待できそうです。
Re: No title
muuさん
こんにちは
> 20年以経過した中古アンプはプロテクターリレーが接触不良を起こしているケースが殆ど。
この接触不良意外にわかりません。使わない長期保存のリレーでもあるかも知れません。
> 片方音が小さかったり、出ないケースも有り。
この手の不具合アンプは少なくはありません。
> 劣化したリレーを数個計測してみました。
ありがとうございます。
> 本来はミリオーム測定には4端子のブリッジ測定が必要ですが100mΩ以上有るので普通のテスターで計測。
> 結果、470mΩ、1650mΩ、320mΩ、2600mΩと恐ろしい程の劣化。
> 今回のFETリレーは44mΩでそれ以上は劣化しない素晴らしい良い結果が期待できそうです。
今後はもう少しON抵抗の小さなFETを入手して回路を組もうと思っています。ゲートのドライブでON抵抗も変わるので
メーカのデータ値までもって行くドライブ回路が重要となります。
こんにちは
> 20年以経過した中古アンプはプロテクターリレーが接触不良を起こしているケースが殆ど。
この接触不良意外にわかりません。使わない長期保存のリレーでもあるかも知れません。
> 片方音が小さかったり、出ないケースも有り。
この手の不具合アンプは少なくはありません。
> 劣化したリレーを数個計測してみました。
ありがとうございます。
> 本来はミリオーム測定には4端子のブリッジ測定が必要ですが100mΩ以上有るので普通のテスターで計測。
> 結果、470mΩ、1650mΩ、320mΩ、2600mΩと恐ろしい程の劣化。
> 今回のFETリレーは44mΩでそれ以上は劣化しない素晴らしい良い結果が期待できそうです。
今後はもう少しON抵抗の小さなFETを入手して回路を組もうと思っています。ゲートのドライブでON抵抗も変わるので
メーカのデータ値までもって行くドライブ回路が重要となります。